Kvalitetskontroll og laboratorier

Den generelle belysningen i en fabrikk er ofte for dårlig til å kunne vurdere kvaliteten på de produserte varene. Dessuten kan strukturen på bygget gjøre at det oppstår skygger på inspeksjonsstedet. Lyssettingen må derfor skreddersys etter produktene som skal inspiseres: overflatestruktur, farge, refleksjoner, størrelse og tiden det tar å inspisere dem.

To belysningskonsepter har vist seg som spesielt gode: Et diffust, jevnt og skyggefritt lys som muliggjør inspeksjon av matte, blanke eller gjennomsiktige gjenstander, eller et retningsbestemt lys fra én eller flere vinkler som modellerer skygger som igjen gjør det enklere å oppdage riper eller sprekker i overflatene. Til den første løsningen kan man bruke nedhengte eller utenpåliggende armaturer i en viss avstand fra arbeidsområdet for å sikre jevnt lys belysning. For den andre løsningen kan man anvende armbaserte skrivebordslamper eller armaturer som er nærmere inspeksjonsområdet. Armaturer med høyere fargegjengivelse kan være påkrevet for inspeksjon av farger.

For inspeksjon av små gjenstander, som f.eks. kretskortkomponenter, er en lupelampe det beste alternativet. Armbaserte lupelamper med firkantede linser kan belyse fra begge sider av gjenstanden som inspiseres, og dermed fremkalle et modellerende lys som, synliggjør komponentene og gjør det enklere å oppdage feil. I elektronikkbransjen forhindrer ESD-armaturer elektrostatisk utladning som kan skade varene.

 

Belysningskrav i EN 12464-1

For kjemisk industri og tekstilproduksjon og prosessering

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Fargeinspeksjon	1 000	1500	19	0,70	90	150	150	100	4000 K ≤ CCT ≤ 6500 K
Kutting, sluttbehandling, inspeksjon	750	1000	19	0,70	80	150	150	100

 

For næringsmiddelindustrien

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Laboratorier	500	750	19	0,60	80	150	150	100

 

For elektro- og elektronikkindustrien

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Elektroniske verksteder, testing og justering	1 500	2000	16	0,70	80	150	150	100

 

For bearbeiding og bearbeiding av metall

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Kutting, sluttbehandling, inspeksjon	750	1000	19	0,70	80	150	150	100

 

For trebearbeiding og bearbeiding

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Kvalitetskontroll, inspeksjon	1 000	1500	19	0,70	90	150	150	100	4000 K ≤ CCT ≤ 6500 K

 

For konstruksjon og reparasjon av kjøretøyer

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Sluttkontroll	1 000	1500	19	0,70	90	150	150	30

 

For valser, jern- og stålverk

Type område, oppgave eller aktivitet	Lux-nivå (Em)		Blendingstall (UGRL)	Jevnhet (U0)	Fargegjengivelse (Ra)	Em,z	Em,vegg	Em,tak	Spesielle krav
	krav	modifisert				U0 ≥ 0,10
Test, måling og inspeksjon	500	750	22	0,60	80	150	150	100